发明公开
- 专利标题: 位置偏移检测方法及模块、抓取位置校准方法、抓取系统
- 专利标题(英): Position offset detecting method and module, grabbing position calibrating method and grabbing system
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申请号: CN201610081316.7申请日: 2016-02-04
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公开(公告)号: CN107030687A公开(公告)日: 2017-08-11
- 发明人: 孙双立 , 毛看
- 申请人: 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
- 申请人地址: 上海市青浦区工业园区胜利路888号(崧泽大道10055号)
- 专利权人: 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
- 当前专利权人: 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市青浦区工业园区胜利路888号(崧泽大道10055号)
- 代理机构: 上海晨皓知识产权代理事务所
- 代理商 成丽杰
- 主分类号: B25J9/16
- IPC分类号: B25J9/16
摘要:
本发明涉及自动化制造技术领域,公开了一种位置偏移检测方法及模块、抓取位置校准方法、抓取系统。本发明中,抓取位置校准方法包含以下步骤:通过位于预设抓取位置的摄像头捕获位于当前位置的待取工件的检测图像;从检测图像中识别待取工件的中心点;判断待取工件的中心点与检测图像的中心点是否满足预设条件;若不满足预设条件,判定发生偏移,则将检测图像映射至预设坐标系的预设坐标区域;分别获取待取工件的中心点与检测图像的中心点在预设坐标系内的工件中心点坐标与图像中心点坐标;根据工件中心点坐标与图像中心点坐标计算工件抓取位置的校准参数。本发明能够在待取工件位置出现偏移的情况下自动校准抓取路径,准确地抓取工件。
IPC分类: