发明授权
- 专利标题: 基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法
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申请号: CN201710140064.5申请日: 2017-03-10
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公开(公告)号: CN106931893B公开(公告)日: 2020-01-07
- 发明人: 黄攸平 , 丁琳 , 陈皇煌 , 吴心妮
- 申请人: 黄攸平 , 丁琳 , 陈皇煌 , 吴心妮
- 申请人地址: 福建省泉州市晋江市梅山路1号市委大院1幢1002室
- 专利权人: 黄攸平,丁琳,陈皇煌,吴心妮
- 当前专利权人: 黄攸平,丁琳,陈皇煌,吴心妮
- 当前专利权人地址: 福建省泉州市晋江市梅山路1号市委大院1幢1002室
- 代理机构: 厦门南强之路专利事务所
- 代理商 马应森
- 主分类号: G01B11/14
- IPC分类号: G01B11/14
摘要:
基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法,涉及光栅栅距测量。用放大镜测出实际光栅薄片的栅距大小;利用电脑制版设计软件,先设计出等间距的黑白线条,并利用印刷专用的出片机,把所述等间距的黑白线条打印在菲林片上;把光栅薄片覆盖在打印出的菲林片上,不同间距的黑白线条在光栅薄片上呈现出不同大小的黑白图案,并且每条黑白线条在光栅薄片上呈现出来的是等距离的黑白图案,在黑白线条的相关数据测量后,创立测量计算公式;利用计算所得的数据为依据,得光栅薄片的栅距,再通过电脑软件再次打印印刷专用的菲林片验证数据是否正确,若得到的图案全是黑色或白色,则说明这个黑白线条的间距与实际所用的光栅薄片的栅距相同。
公开/授权文献
- CN106931893A 基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法 公开/授权日:2017-07-07