发明授权
- 专利标题: 成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法
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申请号: CN201611039350.4申请日: 2016-11-21
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公开(公告)号: CN106768391B公开(公告)日: 2019-01-18
- 发明人: 何军 , 杨勇 , 代海山 , 孙允珠 , 蒋光伟 , 李云端 , 叶擎昊
- 申请人: 上海卫星工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 代理机构: 上海汉声知识产权代理有限公司
- 代理商 郭国中
- 主分类号: G01J5/52
- IPC分类号: G01J5/52 ; G01J3/28
摘要:
本发明提供了一种成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法,包括以下步骤:步骤一,将待测成像仪放置在精密转台上;步骤二,成像仪、光源及地面设备加电,调整光源、靶标及平行光管的中心与待测成像仪的光轴重合,确保靶标可成像在探测器上;步骤三,调整精密转台平面与探测器空间维平行;步骤四,调整精密转台,使靶标成像于第一谱段的某一像元,获得最大像元输出值并记录转台角度;步骤五,按照谱段维方向调整精密转台,使靶标成像于另一探测器焦面第二谱段的像元上,获得最大像元输出值并记录转台角度。本发明满足成像仪不同谱段图像融合质量的要求。
公开/授权文献
- CN106768391A 成像仪不同焦面谱段配准精度测试方法 公开/授权日:2017-05-31