发明授权
- 专利标题: 有价票据的缺陷管理方法及系统
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申请号: CN201710014778.1申请日: 2017-01-10
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公开(公告)号: CN106683263B公开(公告)日: 2019-07-19
- 发明人: 眭俊华 , 刘李泉 , 王建鑫 , 张健 , 卢继兵 , 宁焕成 , 秦庆旺 , 冯礼 , 毛林 , 王皓 , 陈勇 , 魏君 , 孙晓刚 , 张超
- 申请人: 中国人民银行印制科学技术研究所 , 中国印钞造币总公司
- 申请人地址: 北京市丰台区丰台科学城中核路5号2号楼
- 专利权人: 中国人民银行印制科学技术研究所,中国印钞造币总公司
- 当前专利权人: 中钞印制技术研究院有限公司,中国印钞造币集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区丰台科学城中核路5号2号楼
- 代理机构: 北京友联知识产权代理事务所
- 代理商 尚志峰; 汪海屏
- 主分类号: G07D7/20
- IPC分类号: G07D7/20 ; G07D7/206 ; G07D7/183 ; G07D7/187 ; G06T7/00 ; G06T7/66 ; G06K9/62
摘要:
本发明提出了一种有价票据的缺陷管理方法及系统,其中,有价票据的缺陷管理方法包括:通过根据有价票据的样本图像生成携带有疑似缺陷残点的模版图像,根据计算得到的模版图像中的多个疑似缺陷残点组成的几何图形的质心的位置和几何中心的位置,判断多个疑似缺陷残点中的任一疑似缺陷残点是否为缺陷残点。通过本发明的技术方案,可以减少样本个数、计算量以及特征提取的时间,还可提高二次核查系统的核查效率,提高核查的准确率,降低核查成本,提高分类精度,提高质量检测系统的鲁棒性。
公开/授权文献
- CN106683263A 有价票据的缺陷管理、图像分析、质量检测的方法及系统 公开/授权日:2017-05-17