STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法
摘要:
本发明公开了一种STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法。不加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦,在焦平面得理想损耗光斑;加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦,在位于样品内部的焦平面得畸变损耗光斑;将空间光调制器的像素点分区,各分区加载不同的相位值,得到一系列需校正损耗光斑,接着与理想损耗光斑进行互相关计算和处理,得到各分区的相位加载最佳值;各分区经过多次迭代处理后完成样品内部损耗光斑的高质量重建。本发明能重建有损耗空心光斑,能在大深度下得到完整而良好的损耗光斑,扩展了受激辐射淬灭显微技术的应用范围,提高了系统成像深度,提升了系统分辨率与信噪比并优化成像质量。
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