- 专利标题: STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法
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申请号: CN201610813505.9申请日: 2016-09-11
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公开(公告)号: CN106291966B公开(公告)日: 2018-07-17
- 发明人: 龚薇 , 斯科 , 吴晨雪
- 申请人: 浙江大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人: 浙江浙大西投脑机智能科技有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理商 林超
- 主分类号: G02B27/58
- IPC分类号: G02B27/58
摘要:
本发明公开了一种STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法。不加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦,在焦平面得理想损耗光斑;加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦,在位于样品内部的焦平面得畸变损耗光斑;将空间光调制器的像素点分区,各分区加载不同的相位值,得到一系列需校正损耗光斑,接着与理想损耗光斑进行互相关计算和处理,得到各分区的相位加载最佳值;各分区经过多次迭代处理后完成样品内部损耗光斑的高质量重建。本发明能重建有损耗空心光斑,能在大深度下得到完整而良好的损耗光斑,扩展了受激辐射淬灭显微技术的应用范围,提高了系统成像深度,提升了系统分辨率与信噪比并优化成像质量。
公开/授权文献
- CN106291966A STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法 公开/授权日:2017-01-04