Invention Grant
- Patent Title: 样本分析装置、运送装置及方法
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Application No.: CN201610195560.6Application Date: 2016-03-31
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Publication No.: CN106199021BPublication Date: 2019-07-23
- Inventor: 小池洋毅 , 松井洋辅 , 千田刚 , 立谷洋大 , 大前勇一郎 , 熊谷淳 , 朝原友幸
- Applicant: 希森美康株式会社
- Applicant Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
- Agency: 北京市安伦律师事务所
- Agent 杨永波
- Priority: 2015-110897 2015.05.29 JP
- Main IPC: G01N35/00
- IPC: G01N35/00 ; G01N35/10

Abstract:
为了防止从吸移样本的嘴落下的样本混入其他样本中,样本分析装置10包括:运送部件33,向样本吸移位置71运送第一样本容器61、设置部件350,设置装有优先于第一样本容器61内的样本测定而测定的样本的第二样本容器62、嘴111,可以移动,以便从位于样本吸移位置71的第一样本容器61吸移样本,以及从设置在设置部件350的第二样本容器62吸移样本、检测部件260,检测嘴111所吸移的样本的成分、控制部件40,控制部件40控制运送部件33,当向样本吸移位置71运送了第一样本容器61时,如果出现了通过嘴111从第二样本容器62吸移样本的需要时,使第一样本容器61移到离开样本吸移位置71的位置,控制部件还进行控制,使得在第一样本容器61离开样本吸移位置71的状态下,从第二样本容器62吸移了样本的嘴111在样本吸移位置71上方移动。
Public/Granted literature
- CN106199021A 样本分析装置、运送装置及方法 Public/Granted day:2016-12-07
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