利用两阶段编程的非易失性存储器
摘要:
本公开涉及利用两阶段编程的非易失性存储器。对非易失性存储器进行编程包括作为粗/精编程过程的部分的将一系列编程脉冲施加于存储器单元。在编程脉冲之间,响应于施加在共同字线上的单个基准电压,针对目标数据状态的粗阶段验证水平验证处于粗阶段的存储器单元,并且针对目标数据状态的精阶段验证水平验证处于精阶段的存储器单元。对于已被验证为已经达到粗阶段验证水平的处于粗阶段的存储器单元,将针对下一编程脉冲暂时禁止存储器单元编程并且该存储器单元被切换至精阶段。对于已被验证为已经达到精阶段验证水平的处于精阶段的存储器单元,将禁止存储器单元进一步编程。
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