发明授权
- 专利标题： 待测样品分析方法及待测样品分析装置
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申请号： CN201610177898.9申请日： 2016-03-25
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公开(公告)号： CN106018355B公开(公告)日： 2019-01-18
- 发明人: 久保卓也 , 岩永茂树
- 申请人： 希森美康株式会社
- 申请人地址： 日本兵库县
- 专利权人： 希森美康株式会社
- 当前专利权人： 希森美康株式会社
- 当前专利权人地址： 日本兵库县
- 代理机构： 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 郑天松
- 优先权： 2015-065666 2015.03.27 JP
- 主分类号： G01N21/64
- IPC分类号： G01N21/64 ; G01N1/44
摘要：
本发明涉及待测样品分析方法，其包括：对测定样品加热而使DNA发生变性的S14的处理工序，进行抑制自测定样品发生的自身荧光的脱色处理的S21的处理工序，使荧光染料结合于测定样品中的被检物质的S16、S17的处理工序，及向测定样品照射光而对自荧光染料发生的荧光进行摄像的S19的摄像工序。在S21的脱色工序之前进行S14的DNA变性处理工序。
公开/授权文献
- CN106018355A 待测样品分析方法及待测样品分析装置 公开/授权日：2016-10-12
