发明授权
- 专利标题: MOSFET封装结构及其制作方法
-
申请号: CN201610397411.8申请日: 2016-06-07
-
公开(公告)号: CN105870098B公开(公告)日: 2019-03-26
- 发明人: 于大全 , 肖智轶 , 崔志勇 , 耿增华
- 申请人: 华天科技(昆山)电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路112号
- 专利权人: 华天科技(昆山)电子有限公司
- 当前专利权人: 华天科技(昆山)电子有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路112号
- 代理机构: 昆山四方专利事务所
- 代理商 盛建德; 段新颖
- 主分类号: H01L23/498
- IPC分类号: H01L23/498 ; H01L23/482 ; H01L21/60
摘要:
本发明公开了一种MOSFET封装结构及其制作方法,封装结构,包括硅基板和MOSFET芯片,MOSFET芯片正面包含有源极导电垫和栅极导电垫,背面包含有漏极区及金属层,硅基板表面有下沉凹槽,下沉凹槽底部铺设有延伸至基板表面上的导电层,作为漏极导电垫,MOSFET芯片背面贴装到下沉凹槽的底部,金属层与下沉凹槽底部的导电层通过金属键合连接,源极导电垫、栅极导电垫及漏极导电垫上均形成有与外部互连的导电体,硅基板正面上导电体以外部分由保护层包封。本发明将垂直结构的MOSFET背面漏极电流引至MOSFET的正面,实现了源极、栅极、漏极电性在同一侧面,以便进行晶圆级封装,且大面积导电层保证了芯片良好的散热效果;避免硅通孔TSV制程,简化了工艺步骤,降低了封装成本。
公开/授权文献
- CN105870098A MOSFET封装结构及其制作方法 公开/授权日:2016-08-17
IPC分类: