- 专利标题: 一种光模块测试电路、测试装置及写码测试系统
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申请号: CN201610027642.X申请日: 2016-01-15
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公开(公告)号: CN105530045B公开(公告)日: 2018-01-23
- 发明人: 揭志伟 , 张小栋
- 申请人: 深圳市恒宝通光电子股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区北环路猫头山高发工业区高发2号厂房3楼东、4楼、5楼、6楼
- 专利权人: 深圳市恒宝通光电子股份有限公司
- 当前专利权人: 深圳市恒宝通光电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区北环路猫头山高发工业区高发2号厂房3楼东、4楼、5楼、6楼
- 代理机构: 深圳市科吉华烽知识产权事务所
- 代理商 许建; 田亚军
- 主分类号: H04B10/07
- IPC分类号: H04B10/07 ; G01M11/02
摘要:
本发明提供一种光模块测试电路、测试装置及写码测试系统,属于光模块测试领域。本发明测试装置包括测试座、夹具、连接模块、测试电路、推进模块和卡扣压合模块,所述测试座上设有开关和凹槽,所述夹具上设有定位槽,所述连接模块与所述夹具固定连接,所述推进模块用于将所述光模块推入定位槽并固定在所述测试座内,所述卡扣压合模块用于将定位在所述测试座内的光模块钣金罩的卡扣压下,所述连接模块用于连接所述光模块和测试电路,所述测试电路分别与所述卡扣压合模块和推进模块相连。本发明的有益效果为:实现光模块自动固定位置、自动进行地与外壳短路测试、自动写码和自动钣金罩卡扣压合功能,简化生产工序,减少工序间周转时间的损耗。
公开/授权文献
- CN105530045A 一种光模块测试电路、测试装置及写码测试系统 公开/授权日:2016-04-27