发明授权
CN105509640B 小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法
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申请号: CN201510464262.8申请日: 2015-07-23
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公开(公告)号: CN105509640B公开(公告)日: 2018-06-08
- 发明人: 张强 , 房兵红 , 张志刚 , 霍建东 , 郑如松 , 赵秉玉
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
本发明涉及一种小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法。本发明通过制作高同轴度的测量夹具,测量夹具外圆周直径与贯穿要素的内径相配合;将测量夹具沿贯穿要素轴向伸入贯穿要素中固定放置;使用光学投影测量仪对被贯要素的中心进行测量并确定被测零件的中心位置;同时对测量夹具深入到被贯要素的部分取轮廓各点数据进行测量;对测量数据进行分析,利用夹具深入被贯要素中的部分的坐标确定夹具中心,等效确定为贯穿要素的轴心,由此间接测量得相贯结构两要素之间的位置精度,判定相贯结构两要素之间方向和位置是否符合设计要求。本发明方法能够实现相贯结构各要素相对位置精确、方便的测量和分析,提高了测量的精准性、有效性和一致性。
公开/授权文献
- CN105509640A 小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法 公开/授权日:2016-04-20