Invention Grant
- Patent Title: 大脑纵向弛豫值测量方法和装置
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Application No.: CN201510613804.3Application Date: 2015-09-23
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Publication No.: CN105496410BPublication Date: 2019-02-12
- Inventor: 刘新 , 吴垠 , 朱燕杰 , 钟耀祖 , 江克 , 郑海荣
- Applicant: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
- Assignee: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Current Assignee: 中国科学院深圳先进技术研究院
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
- Agency: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 吴平
- Priority: 201410535940.0 2014.10.11 CN
- Main IPC: A61B5/055
- IPC: A61B5/055
Abstract:
本发明提供了一种大脑纵向弛豫值测量方法和装置，其中，所述方法包括：施加IR射频脉冲至预设数量的层，使得所述预设数量的层内的磁化矢量翻转180度，所述层是指对大脑进行磁共振扫描形成的成像层；对所述预设数量的层内的磁化矢量恢复曲线采用交错采集模式采集T1图像，所述采用交错采集模式采集T1图像过程中采用了并行成像和部分傅里叶变换加速技术。上述方法和装置大大缩短了T1图像采集时间。
Public/Granted literature
- CN105496410A 大脑纵向弛豫值测量方法和装置 Public/Granted day:2016-04-20
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