本发明公开了一种微位移测试系统用微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路和复位电路；所述晶振电路包括：与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20；所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9；其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源，负极连接所述微处理器的RST接口。其技术效果是：其能够保证微处理器输出稳定的方波信号，同时防止微处理器发出错误的指令或执行错误操作，提高微处理器的电磁兼容性能。