一种Pogopin模组性能测试系统及其测试方法
Abstract:
本发明公开一种Pogopin模组性能测试系统及其测试方法,包括Pogopin模组探针、Pogopin测试块、Pogopin转接板及测试板以及PC上位机,Pogopin模组探针固定在Pogopin模组上,Pogopin模组连接PCB板,PCB板通过焊盘连接FPC连接器,FPC连接器连接FPC排线,FPC排线通过FPC连接器和焊盘连接测试板,测试板上设有微控制单元,Pogopin模组一侧设有若干个Pogopin测试块,Pogopin模组连接IO转接板,Pogopin模组通过IO转接板引出IO口,IO口通过FPC排线与测试板相连,测试板通过串口通信连接PC上位机。相对现有技术,本发明能够很好的解决Pogopin测量时间上的问题和降低误测率,并且能够有效的直观的解决Pogopin量产测试的瓶颈。
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