发明授权
- 专利标题: 半导体装置
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申请号: CN201380078117.5申请日: 2013-07-08
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公开(公告)号: CN105378903B公开(公告)日: 2018-02-13
- 发明人: 大月咏子 , 贞松康史 , 吉浦康博
- 申请人: 三菱电机株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 三菱电机株式会社
- 当前专利权人: 三菱电机株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 何立波; 张天舒
- 国际申请: PCT/JP2013/068670 2013.07.08
- 国际公布: WO2015/004716 JA 2015.01.15
- 进入国家日期: 2016-01-08
- 主分类号: H01L21/329
- IPC分类号: H01L21/329 ; H01L29/06 ; H01L29/861 ; H01L29/868
摘要:
n‑型半导体衬底(1)具有有源区域和终端区域,该终端区域与有源区域相比配置在外侧。在有源区域,在n‑型半导体衬底(1)的上表面的一部分形成有p+型阳极层(2)。在终端区域,在n‑型半导体衬底(1)的上表面形成有多个p+型保护环层(3)。在n‑型半导体衬底(1)的下表面形成有n+型阴极层(5)。阳极电极(6)与p+型阳极层(2)连接。金属制的阴极电极(7)与n+型阴极层(5)连接。在终端区域,n+型阴极层(5)被挖除而形成凹部(8)。阴极电极(7)也形成在凹部(8)内。
公开/授权文献
- CN105378903A 半导体装置 公开/授权日:2016-03-02
IPC分类: