- 专利标题: 接触电阻和防污特性优良的适合用于探针用途的银合金
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申请号: CN201510672606.4申请日: 2010-05-28
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公开(公告)号: CN105369049B公开(公告)日: 2018-04-10
- 发明人: 森田直记
- 申请人: 田中贵金属工业株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 田中贵金属工业株式会社
- 当前专利权人: 田中贵金属工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 冯雅
- 优先权: 2009-129992 2009.05.29 JP
- 主分类号: C22C5/08
- IPC分类号: C22C5/08 ; C22C9/00 ; C22C30/02 ; G01R1/067
摘要:
本发明是一种银合金,该银合金适合用于由Ag‑Cu合金构成的探针用途,其特征在于,Cu为30~50重量%,其余部分为Ag。该材料通过进一步含有2~10重量%的Ni,从而在强度方面得到进一步的改善。而且,由这些材料构成的探针即使在较低的接触压力下接触电阻也稳定,强度以及针对因反复使用而有来自接触对象的异物附着的情况的防污特性优良,可获得能长期稳定地使用的探针。
公开/授权文献
- CN105369049A 接触电阻和防污特性优良的适合用于探针用途的银合金 公开/授权日:2016-03-02