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发明授权
CN105359028B 用于基本同时地监测样品阵列中的样品的紧凑光学系统 有权

用于基本同时地监测样品阵列中的样品的紧凑光学系统
摘要：
被构造用于能够从一公共参考点基本同时观察阵列中的多个点的光学系统和设备。若没有本申请所公开的光学系统和设备，就只有少于所有多个点的点能够从公共参考点基本同时地被观察到。
摘要（英）：

Optical systems and apparatuses configured for enabling substantially simultaneous observation of a plurality of points in an array from a common reference point. Without the optical systems and apparatuses disclosed herein, less than all of the plurality of points can be observed substantially simultaneously from the common reference point.

公开/授权文献
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