Invention Grant
CN105247624B X射线成像装置和方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: X射线成像装置和方法
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Application No.: CN201480031061.2Application Date: 2014-05-16
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Publication No.: CN105247624BPublication Date: 2018-12-04
- Inventor: 盖瑞·吉普森
- Applicant: IBEX创新有限责任公司
- Applicant Address: 英国达拉谟塞奇菲尔德
- Assignee: IBEX创新有限责任公司
- Current Assignee: IBEX创新有限责任公司
- Current Assignee Address: 英国达拉谟塞奇菲尔德
- Agency: 深圳市博锐专利事务所
- Agent 张明
- Priority: 1308876.0 2013.05.16 GB
- International Application: PCT/GB2014/051524 2014.05.16
- International Announcement: WO2014/184588 EN 2014.11.20
- Date entered country: 2015-12-03
- Main IPC: G21K1/10
- IPC: G21K1/10 ; H05G1/00

Abstract:
一种X射线/γ射线成像装置,包括像素化X射线/γ射线探测器(3),被测物体的摆放台(2)、X射线或γ射线源(1)和配置成扰动能谱的结构(6),这些均位于公共轴上,所述探测器(3)包括配置成探测入射X射线/γ射线波长光子的构件。所述射线源布置成使X射线/γ射线能谱沿着公共轴以撞击配置成扰动所述X射线能谱的所述结构和被测物体/对象。所述结构和所述物体摆放台位于所述射线源和所述探测器构件之间,所述结构包括至少三个相邻区域,每个区域与紧邻区域不同并配置成对X射线能谱产生不同的干扰。对探测光子执行随机降噪算法。
Public/Granted literature
- CN105247624A X射线成像装置和方法 Public/Granted day:2016-01-13
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