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发明授权
CN105144387B 具有冗余方案的发光二极管显示器和利用集成的缺陷检测测试来制造发光二极管显示器的方法 有权 转让

  • 专利标题： 具有冗余方案的发光二极管显示器和利用集成的缺陷检测测试来制造发光二极管显示器的方法
  • 申请号： CN201480015005.X
    申请日： 2014-03-06
  • 公开(公告)号： CN105144387B
    公开(公告)日： 2018-03-13
  • 发明人: A·比布尔 , K·V·萨卡里亚 , C·R·格里格斯 , J·M·珀金斯
  • 申请人： 苹果公司
  • 申请人地址： 美国加利福尼亚州
  • 专利权人： 苹果公司
  • 当前专利权人： 苹果公司
  • 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
  • 代理机构： 北京市金杜律师事务所
  • 代理商 王茂华; 张宁
  • 优先权： 13/842,879 2013.03.15 US
  • 国际申请： PCT/US2014/021259 2014.03.06
  • 国际公布： WO2014/149864 EN 2014.09.25
  • 进入国家日期： 2015-09-14
  • 主分类号： H01L27/32
  • IPC分类号： H01L27/32 ;  H01L51/52
具有冗余方案的发光二极管显示器和利用集成的缺陷检测测试来制造发光二极管显示器的方法
摘要：
本发明描述了一种显示器面板及其制造方法。在一个实施例中，显示器衬底包括像素区域和非像素区域。子像素的阵列和对应的底部电极的阵列在像素区域中。微型LED器件的阵列键合到底部电极的阵列。与微型LED器件的阵列电接触的一个或多个顶部电极层被形成。在一个实施例中，一对冗余微型LED器件键合到底部电极的阵列。在一个实施例中，微型LED器件的阵列被成像以检测不规则部件。
摘要（英）：

A display panel and method of manufacture are described. In an embodiment, a display substrate includes a pixel area and a non-pixel area. An array of subpixels and corresponding array of bottom electrodes are in the pixel area. An array of micro LED devices are bonded to the array of bottom electrodes. One or more top electrode layers are formed in electrical contact with the array of micro LED devices. In one embodiment a redundant pair of micro LED devices are bonded to the array of bottom electrodes. In one embodiment, the array of micro LED devices are imaged to detect irregularities.

公开/授权文献
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