发明公开
CN105097763A 半导体结构及其制造方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 半导体结构及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor structure and manufacturing method thereof
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申请号: CN201510239719.5申请日: 2015-05-12
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公开(公告)号: CN105097763A公开(公告)日: 2015-11-25
- 发明人: 潘俊鹏 , 张义民 , 林佳升
- 申请人: 精材科技股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼
- 专利权人: 精材科技股份有限公司
- 当前专利权人: 精材科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇
- 优先权: 62/001,919 2014.05.22 US
- 主分类号: H01L23/498
- IPC分类号: H01L23/498 ; H01L21/48
摘要:
一种半导体结构及其制造方法,该半导体结构的制造方法包含下列步骤:形成第一绝缘层于晶圆基板的第一表面;形成导电垫于第一绝缘层上;形成贯穿于晶圆基板的第一表面与第二表面的镂空区,使得第一绝缘层从镂空区裸露;以及激光蚀刻裸露于镂空区的第一绝缘层,使得第一绝缘层形成第一开口,且导电垫形成从第一开口裸露的凹部。本发明可提升半导体结构的良率,且可使导电垫的厚度得以减薄,节省成本。
IPC分类: