发明公开
CN105049114A 一种测试光交换芯片模块性能的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种测试光交换芯片模块性能的方法
- 专利标题(英): Method for testing performance of optical switching chip module
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申请号: CN201510444386.X申请日: 2015-07-27
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公开(公告)号: CN105049114A公开(公告)日: 2015-11-11
- 发明人: 赵元力 , 武保剑 , 廖明乐 , 耿勇 , 周星宇 , 文峰 , 邱昆
- 申请人: 电子科技大学
- 申请人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构: 电子科技大学专利中心
- 代理商 李明光
- 主分类号: H04B10/07
- IPC分类号: H04B10/07
摘要:
本发明属于光通信技术领域,提供一种测试光交换芯片模块性能的方法。本发明通过测量光交换芯片模块输入端口到输出端口的频谱传输特性,分别获取“单端口输入”和“多端口输入”状态下光交换芯片模块的频谱眼图,计算出光功率增益或消光比曲线,能够直观地观察和定量地确定光交换芯片模块在每种光交换状态下的消光比、串扰、光信噪比、带宽及其抖动、频谱形状因子等性能参数,本发明适用于各种光交换芯片模块进行测试,特别适合测试基于微环谐振器的光交换芯片。本发明提供的测试方法为光交换芯片的设计开发、模块化封装、性能测试等环节提供了有效的测试手段和评价依据,大大提高了芯片测试的科学性。
公开/授权文献
- CN105049114B 一种测试光交换芯片模块性能的方法 公开/授权日:2017-10-17