一种测试光交换芯片模块性能的方法
摘要:
本发明属于光通信技术领域,提供一种测试光交换芯片模块性能的方法。本发明通过测量光交换芯片模块输入端口到输出端口的频谱传输特性,分别获取“单端口输入”和“多端口输入”状态下光交换芯片模块的频谱眼图,计算出光功率增益或消光比曲线,能够直观地观察和定量地确定光交换芯片模块在每种光交换状态下的消光比、串扰、光信噪比、带宽及其抖动、频谱形状因子等性能参数,本发明适用于各种光交换芯片模块进行测试,特别适合测试基于微环谐振器的光交换芯片。本发明提供的测试方法为光交换芯片的设计开发、模块化封装、性能测试等环节提供了有效的测试手段和评价依据,大大提高了芯片测试的科学性。
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