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发明授权
CN104937381B 测量刻度 有权

测量刻度
摘要：
一种测量刻度装置，其包括至少一个刻度标记，其中所述或每一刻度标记包括表示刻度装置信息的至少一个周期性纳米结构。
摘要（英）：

A measurement scale device includes at least one scale marking, wherein the or each scale marking includes at least one periodic nanostructure that represents scale device information.

公开/授权文献
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