发明公开
CN104730486A 一种高温低压老化试验装置
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种高温低压老化试验装置
- 专利标题(英): High-temperature and low-voltage aging test device
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申请号: CN201510072774.X申请日: 2015-02-11
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公开(公告)号: CN104730486A公开(公告)日: 2015-06-24
- 发明人: 于钦学 , 任挺 , 曹淳枫 , 钟力生
- 申请人: 西安交通大学
- 申请人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市咸宁西路28号
- 代理机构: 北京中济纬天专利代理有限公司
- 代理商 张晓霞
- 主分类号: G01R35/02
- IPC分类号: G01R35/02 ; G01R31/12
摘要:
本发明涉及一种高温低压老化试验装置,所述试验装置包括罐体、中心电极、阀门接口;所述罐体分为三部分,分别为绝缘板、外壳和底部盖板,所述绝缘板、外壳和底部盖板依次相连;所述中心电极安装于所述罐体的绝缘板的中心位置并被固定,并通过绝缘板上的通孔深入罐体内部;所述阀门接口用于与外接气体阀门相连。本发明通过各项性能进行检验能够满足电热老化试验平台的试验要求,能够针对SF6气体电流互感器内部的盆式绝缘子进行研究,以及研究其加压后的局部放电与SF6分解气体之间的关系提供支持,进而为更好的监测电流互感器运行状况而奠定基础。