本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法，用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法：参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射，与液氮制冷黑体的背景辐射，被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，在一个周期内交替入射到光学系统，最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，再经过锁相放大器处理得到测量电压信号；根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中，大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。