发明公开
- 专利标题: 一种基于椭偏仪的微流控原位液体环境测量系统、其测量方法及应用
- 专利标题(英): Microfluidic in-situ liquid environment measurement system based on ellipsometer as well as measurement method and application of system
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申请号: CN201510024847.8申请日: 2015-01-19
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公开(公告)号: CN104568767A公开(公告)日: 2015-04-29
- 发明人: 祖敏 , 熊玉峰 , 徐晓慧 , 杨晓宇 , 马万顺
- 申请人: 国家纳米科学中心
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村北一条11号
- 专利权人: 国家纳米科学中心
- 当前专利权人: 国家纳米科学中心
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村北一条11号
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 巩克栋; 侯潇潇
- 主分类号: G01N21/21
- IPC分类号: G01N21/21
摘要:
本发明提供了一种基于椭偏仪的微流控原位液体环境测量系统、其测量方法及应用,所述系统包括椭偏仪、微流控芯片、微量注射泵、电移台和控制单元,所述微流控芯片固定于所述电移台上,所述电移台置于所述椭偏仪的样品台上并与所述控制单元相连,所述微量注射泵分别与所述微流控芯片和所述控制单元相连。所述基于椭偏仪的微流控原位液体环境测量系统使得椭偏仪能够测量液体样品池中流动状态的样品的光学参数,对微流控材料的液体环境生长情况进行实时测量,能够满足用户在液体环境中进行椭偏仪光学常数测量的需求;并且利用该系统进行光学常数测量的方法简单,易于操作,自动化程度高,方便快捷。