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高临界温度超导薄膜制备方法
Abstract:
本发明为高临界温度(90K)超导薄膜制备方法。采用超高真空系统,单个化合物靶,高气压低电压直流磁控溅射,原位外延生长,原位低温热处理制备工艺,用于制备MBa2Cu3O7型高临界温度氧化物超导薄膜(M=Y,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb)。零电阻临界温度高达92.7K,77K临界电流密度高达3.6mA/cm2。这种薄膜可用于制备在液氮温度下工作的超导电子器件和超导体-半导体混合电子器件。
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