Invention Publication
- Patent Title: 一种聚变装置中微波外差系统的强度绝对标定方法
- Patent Title (English): Intensity absolute calibration method of microwave heterodyne system in fusion device
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Application No.: CN201410723124.2Application Date: 2014-12-02
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Publication No.: CN104501961APublication Date: 2015-04-08
- Inventor: 刘永 , 刘祥 , 胡立群
- Applicant: 中国科学院等离子体物理研究所
- Applicant Address: 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
- Assignee: 中国科学院等离子体物理研究所
- Current Assignee: 中国科学院等离子体物理研究所
- Current Assignee Address: 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
- Agency: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司
- Agent 余成俊
- Main IPC: G01J5/00
- IPC: G01J5/00

Abstract:
本发明公开了一种聚变装置中微波外差系统的强度绝对标定方法,采用标准强度源向待标定微波外差系统提供辐射强度,其特征在于:所述标准强度源和待标定微波外差系统之间还设有还采用斩波器,所述的斩波器调制待标定微波外差系统接收到的信号并提供周期信号和参考信号,还采用锁相放大器以及采集系统,所述参考信号直接输入采集系统,所述周期信号输入锁相放大器,所述待标定微波外差系统接收斩波器调制的信号并分两路输出该信号,一路直接输入采集系统,另一路输入锁相放大器;本发明专利方法简洁有效,易于实施,解决了微波外差系统的强度绝对标定。
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