- 专利标题： 一种PCB电气性能测试点的智能四线选点方法
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申请号： CN201310381760.7申请日： 2013-08-28
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公开(公告)号： CN104422845B公开(公告)日： 2017-06-23
- 发明人: 李根 , 李学光 , 杨朝辉 , 石磊
- 申请人： 深圳麦逊电子有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区西丽镇沙河新围工业区第九栋
- 专利权人： 深圳麦逊电子有限公司
- 当前专利权人： 深圳麦逊电子有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区西丽镇沙河新围工业区第九栋
- 代理机构： 深圳市国科知识产权代理事务所
- 代理商 陈永辉
- 主分类号： G01R31/02
- IPC分类号： G01R31/02
摘要：
本发明公开了一种PCB电气性能测试点的智能四线选点方法，用于对PCB板上的孔进行检验，该方法通过对PCB板上的孔进行筛选后，选择符合要求的镀通孔为测试孔；本发明的这种选点方法，替代了人们手动选点的过程，对需要测试的孔不会漏选也不会多选，从而对PCB板的测试提供有力的保障。
公开/授权文献
- CN104422845A 一种PCB电气性能测试点的智能四线选点方法 公开/授权日：2015-03-18
