- 专利标题: 用于服役寿命预测的高分子材料老化有效温度的计算方法
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申请号: CN201410493855.2申请日: 2014-09-24
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公开(公告)号: CN104296888B公开(公告)日: 2017-02-15
- 发明人: 陶友季 , 郭燕芬 , 秦汉军 , 揭敢新 , 张晓东 , 冯皓
- 申请人: 中国电器科学研究院有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市海珠区新港西路204号
- 专利权人: 中国电器科学研究院有限公司
- 当前专利权人: 中国电器科学研究院股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市海珠区新港西路204号
- 代理机构: 广州知友专利商标代理有限公司
- 代理商 宣国华
- 主分类号: G01K11/00
- IPC分类号: G01K11/00 ; G01N17/00
摘要:
本发明公开了用于服役寿命预测的高分子材料老化有效温度的计算方法,包括步骤(1):在户外开展气候老化试验时,采用公式表示由大气辐照和温度造成的高分子材料试验样品的老化损伤D;步骤(2):存在高分子材料样品老化的有效温度Teff,该有效温度Teff为常数,使得同样的高分子材料样品接受相同剂量的辐照后会导致与步骤(1)中的老化损伤D同样的老化损伤D,该老化损伤D如公式所示;步骤(3):整理得公式通过该公式即可求得高分子材料样品老化的有效温度Teff。该方法能够更好地为高分子材料的服役寿命预测服务。
公开/授权文献
- CN104296888A 用于服役寿命预测的高分子材料老化有效温度的计算方法 公开/授权日:2015-01-21