摘要:
本发明公开了一种基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率快速无损测试方法,该方法包括:S1.水稻种子样品的收集与水稻种子的老化处理;S2.水稻种子近红外光谱数据的采集;S3.水稻种子发芽试验;S4.水稻种子近红外光谱数据的波段选择和预处理;S5.基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率模型的建立与检验。本发明的方法能够通过采集具有不同老化时间段水稻种子的近红外光谱数据,经对近红外光谱数据进行波段选择和预处理,采用偏最小二乘法建立基于近红外光谱的水稻种子发芽率模型,经检验模型准确可靠,具有实际应用性。该发明方法能够达到快速、无损和准确测试水稻种子发芽率。
公开/授权文献
- CN104255118A 基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率快速无损测试方法 公开/授权日:2015-01-07