- 专利标题: 检测电路、半导体集成电路装置、磁场旋转角检测装置和电子设备
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申请号: CN201410108876.8申请日: 2014-03-21
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公开(公告)号: CN104062609B公开(公告)日: 2018-01-02
- 发明人: 桑野俊一
- 申请人: 精工爱普生株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 精工爱普生株式会社
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- 代理机构: 北京金信知识产权代理有限公司
- 代理商 黄威; 苏萌萌
- 优先权: 2013-059601 2013.03.22 JP
- 主分类号: G01B7/30
- IPC分类号: G01B7/30
摘要:
本发明提供检测电路、半导体集成电路装置和磁场旋转角检测装置。其课题为,使用以相互成预定的角度的方式而配置有两个传感器单元的磁传感器,并利用简单的电路结构,而以比45°更精细的精度来检测出磁场的旋转角。检测电路为与磁传感器连接的检测电路,在磁传感器中以相互成预定角度的方式而配置有,具有磁阻效应元件的桥式电路的第1传感器单元和第2传感器单元,所述检测电路包括:第1比较电路,其对第1或第2传感器单元的输出信号进行比较;第2比较电路,其对第1传感器单元的输出信号与第2传感器单元的输出信号进行比较;旋转角计算电路,其基于第1比较电路的比较结果和第2比较电路的比较结果,来计算出磁场的旋转角。
公开/授权文献
- CN104062609A 检测电路、半导体集成电路装置和磁场旋转角检测装置 公开/授权日:2014-09-24