- 专利标题: 半导体器件、集成电路和制造集成电路的方法
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申请号: CN201410044010.5申请日: 2014-01-30
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公开(公告)号: CN103972301B公开(公告)日: 2017-01-11
- 发明人: A.迈泽尔 , W.施维特利克
- 申请人: 英飞凌科技股份有限公司
- 申请人地址: 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号
- 专利权人: 英飞凌科技股份有限公司
- 当前专利权人: 英飞凌科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 王岳; 胡莉莉
- 优先权: 13/754997 2013.01.31 US
- 主分类号: H01L29/788
- IPC分类号: H01L29/788 ; H01L27/115 ; H01L21/8247
摘要:
本发明涉及半导体器件、集成电路和制造集成电路的方法。一种半导体器件在包括第一主表面的半导体衬底中形成并且包括置放于在第一主表面中形成的第一沟槽的下部中的控制栅、在控制栅上方置放在第一沟槽中并且从控制栅绝缘的浮栅、第一导电类型的源极区域、第二导电类型的本体区域和第一导电类型的漏极区域。
公开/授权文献
- CN103972301A 半导体器件、集成电路和制造集成电路的方法 公开/授权日:2014-08-06
IPC分类: