Invention Publication

  • Patent Title: 附着物探测器和附着物检测方法
  • Patent Title (English): Attached matter detector, and attached matter detection method
  • Application No.: CN201280059279.X
    Application Date: 2012-11-27
  • Publication No.: CN103959041A
    Publication Date: 2014-07-30
  • Inventor: 关口洋义
  • Applicant: 株式会社理光
  • Applicant Address: 日本东京都
  • Assignee: 株式会社理光
  • Current Assignee: 株式会社理光
  • Current Assignee Address: 日本东京都
  • Agency: 北京市柳沈律师事务所
  • Agent 张晓明
  • Priority: 2011-262113 2011.11.30 JP
  • International Application: PCT/JP2012/081226 2012.11.27
  • International Announcement: WO2013/081160 EN 2013.06.06
  • Date entered country: 2014-05-30
  • Main IPC: G01N21/17
  • IPC: G01N21/17
附着物探测器和附着物检测方法
Abstract:
一种附着物检测器包括:光源,其向透明构件发射光;成像设备,其通过图像传感器接收从所述光源发射并且被在所述透明构件上附着的附着物反射的光,并且以预定的成像频率将所述附着物的图像连续地成像;以及,附着物检测处理器,其基于由所述成像设备成像的图像来检测所述附着物,其中,所述光源发射以与所述成像频率不同的驱动频率闪烁的光,并且所述成像设备经由选择和透射所述反射光的滤光器接收所述反射光,并且,所述附着物检测处理器检测由在所述成像频率和所述驱动频率之间的差产生的在图像上的节拍,并且将其中检测到所述节拍的图像区域识别为附着物图像区域。
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