发明公开
CN103941040A 基于纳米微粒探测的后向散射光检测加速度的装置及方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 基于纳米微粒探测的后向散射光检测加速度的装置及方法
- 专利标题(英): Device and method for detecting acceleration on basis of back scattered light of nano particle detection
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申请号: CN201410166172.6申请日: 2014-04-23
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公开(公告)号: CN103941040A公开(公告)日: 2014-07-23
- 发明人: 李晴 , 吴兴坤 , 黄河 , 陈施洁 , 邹红梅
- 申请人: 浙江大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理商 邱启旺
- 主分类号: G01P15/093
- IPC分类号: G01P15/093
摘要:
本发明公开了一种基于纳米微粒探测的后向散射光检测加速度的装置及方法,该装置包括反光镜、减光片、分束镜、滤光片、第一聚焦透镜、第一纳米微粒、第二微米微粒、磨锥光纤、刚性连接杆、第二聚焦透镜、针孔、分离光探测器、激光器、准直透镜、光强调制器、DSP处理器、微流通道;本发明基于高灵敏度的纳米级位移测量,使该结构可以获得极高的加速度测量分辨力,并仅仅受限制于光压回复力的绝对值,同时闭环的控制回路能够大幅扩展动态测量范围;本发明在没有物理接触的条件下对纳米量级位移的加速度进行测量,并对非被测加速度方向上的其他作用力不敏感,具有低噪声、高灵敏度、自带反馈功能、高精度识别和分析的特点。
公开/授权文献
- CN103941040B 基于纳米微粒探测的后向散射光检测加速度的装置及方法 公开/授权日:2016-04-27
IPC分类: