- 专利标题: 总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法及系统
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申请号: CN201210525187.8申请日: 2012-12-07
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公开(公告)号: CN103853866B公开(公告)日: 2016-12-21
- 发明人: 张兴洲 , 倪凌云 , 孙长江
- 申请人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- 专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- 代理机构: 上海浦一知识产权代理有限公司
- 代理商 王江富
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50
摘要:
本发明公开了一种总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法,将1存储状态的数据图形同总数据版图中的ROM代码数据图形的各个存储单元的数据图形进行布尔与运算,得到总数据版图中的ROM代码数据图形的各个存储单元的解码值;将总数据版图中的ROM代码数据图形的各存储单元的解码值,同样本ROM代码数据中的相应各存储单元的原始值分别比较,得到验证结果。本发明还公开了一种总数据版图中的ROM代码数据图形的校验系统。本发明,进行一次文本比较,就可以准确验证总数据版图中的ROM代码数据图形是否正确,整个过程可以完全自动化,快速方便。
公开/授权文献
- CN103853866A 总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法及系统 公开/授权日:2014-06-11