发明公开
- 专利标题: 一种提高热电阻温度计测量精度的方法
- 专利标题(英): Method for improving measuring precision of thermal resistance thermometer
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申请号: CN201210520835.0申请日: 2012-12-07
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公开(公告)号: CN103852183A公开(公告)日: 2014-06-11
- 发明人: 霍雨佳 , 李小芬 , 李红霞 , 何正熙 , 朱加良 , 陈静 , 余俊辉 , 何鹏 , 苟拓 , 刘艳阳 , 李文平 , 王远兵 , 王华金
- 申请人: 中国核动力研究设计院
- 申请人地址: 四川省成都市436信箱信息中心
- 专利权人: 中国核动力研究设计院
- 当前专利权人: 中国核动力研究设计院
- 当前专利权人地址: 四川省成都市436信箱信息中心
- 代理机构: 核工业专利中心
- 代理商 高尚梅
- 主分类号: G01K7/16
- IPC分类号: G01K7/16 ; G01K15/00
摘要:
本发明涉及,具体公开了一种提高热电阻温度计测量精度的方法,包括以下步骤:1、在一个热电阻温度计的测量范围内选取m个点作为温度校准基准点,其中第n个基准点的输出温度值为Yn;2、根据该热电阻温度计的数据表采集第n个温度校准基准点的电阻值Rn;3、获得第n个温度校准基准点对应的输入温度值Xn;4、所述m个温度校准基准点构成m-1个温度区间段,当热电阻温度计测量的温度值Ti处于第i个温度区间段时,根据步骤三得到的第i个温度区间段的增益Ai与偏置Bi;5、对热电阻温度计测量的温度值Ti进行校准修正,得到校准修正温度值Ti‘。本发明提高了核电厂热电阻温度计的测量精度;降低了整个温度测量通道的误差,提高了电厂的安全性和经济性。
公开/授权文献
- CN103852183B 一种提高热电阻温度计测量精度的方法 公开/授权日:2016-06-29