Invention Grant
- Patent Title: 温度分布测定装置以及温度分布测定方法
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Application No.: CN201180072850.7Application Date: 2011-08-15
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Publication No.: CN103733037BPublication Date: 2015-09-30
- Inventor: 笠嶋丈夫 , 宇野和史 , 石锅稔 , 只木恭子 , 武井文雄
- Applicant: 富士通株式会社
- Applicant Address: 日本神奈川县
- Assignee: 富士通株式会社
- Current Assignee: 富士通株式会社
- Current Assignee Address: 日本神奈川县
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 舒艳君; 李洋
- International Application: PCT/JP2011/068503 2011.08.15
- International Announcement: WO2013/024525 JA 2013.02.21
- Date entered country: 2014-02-13
- Main IPC: G01K11/12
- IPC: G01K11/12

Abstract:
本发明提供能够根据光纤的全长的变化而容易地设定适当的传递函数的温度分布测定装置以及温度分布测定方法。温度分布测定装置(20)具有:与光纤(24)光学连接的激光光源(21)、检测在光纤(24)内发生后向散射的光的光检测器(26)、以及对从光检测器(26)的输出获得的临时的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算来作为真的测定温度分布的温度分布测定部(27)。另外,温度分布测定部(27)存储有按每个光纤(24)的全长以及长度方向的每个位置而设定的传递函数的数据。而且,若光纤(24)的长度被变更,则温度分布测定部(27)使用传递函数的数据来变更用于修正计算的传递函数。
Public/Granted literature
- CN103733037A 温度分布测定装置以及温度分布测定方法 Public/Granted day:2014-04-16
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