发明公开
- 专利标题: 一种磁记录薄膜结构及其制备方法
- 专利标题(英): Magnetic recording film structure and production method thereof
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申请号: CN201310476807.8申请日: 2013-10-14
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公开(公告)号: CN103544968A公开(公告)日: 2014-01-29
- 发明人: 吴琼 , 张朋越 , 王洁依 , 葛洪良
- 申请人: 中国计量学院
- 申请人地址: 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
- 专利权人: 中国计量学院
- 当前专利权人: 中国计量学院
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
- 代理机构: 杭州浙科专利事务所
- 代理商 吴秉中
- 主分类号: G11B5/84
- IPC分类号: G11B5/84 ; C23C14/34 ; B32B17/06 ; B32B15/04
摘要:
本发明公开了一种磁记录薄膜结构,包括在玻璃基片上交替沉积Fe层和Pt层,均沉积四层,即采用玻璃基片/(Fe/Pt)4的结构,在平行和垂直膜面的方向上的矫顽力均达到12.5kOe。本发明还公开了一种磁记录薄膜结构的制备方法;本发明的磁记录薄膜结构性能优良,热稳定性高。
公开/授权文献
- CN103544968B 一种磁记录薄膜结构及其制备方法 公开/授权日:2017-01-25
IPC分类: