Invention Grant
CN103516450B 一种射频系统群时延参数的测量装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种射频系统群时延参数的测量装置
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Application No.: CN201310520222.1Application Date: 2013-10-29
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Publication No.: CN103516450BPublication Date: 2015-08-12
- Inventor: 陆晨曦 , 李宏宇 , 李闯 , 年丰 , 冯克明
- Applicant: 北京无线电计量测试研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区北京142信箱408分箱
- Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区北京142信箱408分箱
- Agency: 北京正理专利代理有限公司
- Agent 张文祎
- Main IPC: H04B17/00
- IPC: H04B17/00

Abstract:
本发明公开了一种射频系统群时延参数的测量装置,该测量装置包括:脉冲信号发生器(1)、调制器(2)、第一射频源(3)、平方率检波器(5)、第二射频源(6)、功分器(7)、第一模数转换器(8)、第二模数转换器(9)、以及后处理模块(10);所述单刀双掷开关(4)包括第一不动端子(401)、第二不动端子(402)和动触头(403)。所述测量装置利用平方率检波器对调制后的信号进行解调,能避免引入误差,从而提高测量精度,其测量精度优于1ns。所述测量装置利用脉冲信号发生器产生码型和码速率可控的脉冲信号,使得群时延参数的测量孔径和测量时间可调。所述测量装置利用单刀双掷开关实现调制器输出端的信号通路的切换,使得测量过程简化。所述测量装置适用的频率范围为100MHz-50GHz。
Public/Granted literature
- CN103516450A 一种射频系统群时延参数的测量装置 Public/Granted day:2014-01-15
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