发明授权
CN103499711B 超小间距的高频集成电路交流自动测试探头
失效 - 权利终止
- 专利标题: 超小间距的高频集成电路交流自动测试探头
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申请号: CN201310436171.4申请日: 2013-09-23
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公开(公告)号: CN103499711B公开(公告)日: 2017-03-29
- 发明人: 殷友桃
- 申请人: 无锡市汇博普纳电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市金山北工业经济园
- 专利权人: 无锡市汇博普纳电子有限公司
- 当前专利权人: 无锡市汇博普纳电子有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市金山北工业经济园
- 代理机构: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所
- 代理商 曾少丽
- 主分类号: G01R1/067
- IPC分类号: G01R1/067
摘要:
本发明公布了一种超小间距的高频集成电路交流自动测试探头,包括多个以阵列、非对称方式均布在上层的主动式弹性取样上片和多个对应的设置在下层的主动式弹性取样下片;所述主动式弹性取样上、下片上分别设置有用于定位所述主动式弹性取样上、下片的绝缘件;所述主动式弹性取样上、下片的前部一体式封装在设有的塑封体内;所述主动式弹性取样上片上侧的塑封体内设置有上层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样下片下侧的塑封体内设置有下层金属屏蔽片,所述主动式弹性取样上片和所述主动式弹性取样下片之间的塑封体内设置有中层金属屏蔽片;各层之间的金属屏蔽片呈对偶设置。本发明中的取样片采用上下双片形式设置,提高了测试的可靠性。
公开/授权文献
- CN103499711A 超小间距的高频集成电路交流自动测试探头 公开/授权日:2014-01-08