Invention Grant
- Patent Title: 一种用于分析样品中的靶标的装置、系统及方法
- Patent Title (English): Apparatus, system and method for analyzing a target in a sample
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Application No.: CN201310222241.6Application Date: 2007-02-07
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Publication No.: CN103308504BPublication Date: 2015-07-15
- Inventor: D·M·斯托克 , J·J·阿齐勒
- Applicant: 分子设备有限公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 分子设备有限公司
- Current Assignee: 分子设备有限公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 上海专利商标事务所有限公司
- Agent 毛力
- Priority: 11/351,181 2006.02.08 US
- The original application number of the division: 2007800047561 2007.02.07
- Main IPC: G01N21/64
- IPC: G01N21/64 ; G01N21/76

Abstract:
提供了一种用于分析样品中的靶标的系统,所述系统包括:结构;电源,位于所述结构中;检测器,位于所述结构中;多个可移除的模块盒,至少一个可移除的模块盒包括用于产生激励光的光源、用于将电能从电源提供给光源的耦合器、以及用于将激励光引导至靶标的第一光学系统;读取头,被配置为接收来自所述靶标的发射光;以及模块盒支架,相对于所述结构是可移动的,包括被配置成同时接收多个可移除的模块盒的模块盒位置,所述模块盒支架被配置为选择性地将一个或多个可移除的模块盒与所述检测器和所述读取头相对齐,其中每个可移除的模块盒可从所述模块盒支架移除。
Public/Granted literature
- CN103308504A 一种用于分析样品中的靶标的装置、系统及方法 Public/Granted day:2013-09-18
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