Invention Grant
- Patent Title: 接触检查用工具
- Patent Title (English): Jig for contact inspection
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Application No.: CN201180057125.2Application Date: 2011-11-16
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Publication No.: CN103238077BPublication Date: 2015-07-22
- Inventor: 富冈宏之
- Applicant: 株式会社精研
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社精研
- Current Assignee: 株式会社精研
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 李洋; 苏琳琳
- Priority: 2010-265603 2010.11.29 JP
- International Application: PCT/JP2011/076443 2011.11.16
- International Announcement: WO2012/073701 JA 2012.06.07
- Date entered country: 2013-05-28
- Main IPC: G01R1/04
- IPC: G01R1/04 ; G01R1/067
Abstract:
由于引导探针的柱塞的引导孔需要烦琐的孔加工，所以很难对应端子或电极的窄间距化以及多极化。在形成于上侧块（10）以及下侧块（11）的圆筒状的保持孔（12、15）安装探针（2）。探针的柱塞（6）具有板状的引导部（19a）和其前端的接触部（19b）。在上侧块（10）上从下方形成有有底的保持孔（12），并且从上表面（s）形成有引导槽（13）。在该引导槽（13），所述引导部（19a）止转并且以可防脱地上下移动的方式被引导。
Public/Granted literature
- CN103238077A 接触检查用工具 Public/Granted day:2013-08-07
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