发明授权
- 专利标题: 光学记录介质
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申请号: CN201180043515.4申请日: 2011-09-09
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公开(公告)号: CN103189919B公开(公告)日: 2016-03-16
- 发明人: 三木刚 , 田内裕基
- 申请人: 索尼公司 , 株式会社神户制钢所
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 索尼公司,株式会社神户制钢所
- 当前专利权人: 索尼公司,株式会社神户制钢所
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 张英; 王玉桂
- 优先权: 2010-208148 2010.09.16 JP
- 国际申请: PCT/JP2011/005104 2011.09.09
- 国际公布: WO2012/035740 JA 2012.03.22
- 进入国家日期: 2013-03-08
- 主分类号: G11B7/24038
- IPC分类号: G11B7/24038 ; G11B7/2578 ; G11B7/243
摘要:
[问题]提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质(10),包括:基板(11);和两个或更多个记录层(121、122、123),所述记录层包含Pd、O、和M(其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素),并且O的含量大于M被完全氧化(被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2)时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时,第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量,其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层(121、122、123)中的任意一个。
公开/授权文献
- CN103189919A 光学记录介质 公开/授权日:2013-07-03
IPC分类: