- 专利标题: 一种p型GaN与AlGaN半导体材料的制备方法
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申请号: CN201210396995.9申请日: 2012-10-18
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公开(公告)号: CN102903615B公开(公告)日: 2018-02-06
- 发明人: 江灏 , 陈英达
- 申请人: 中山大学
- 申请人地址: 广东省广州市新港西路135号
- 专利权人: 中山大学
- 当前专利权人: 中山大学
- 当前专利权人地址: 广东省广州市新港西路135号
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 陈卫
- 主分类号: H01L21/205
- IPC分类号: H01L21/205
摘要:
本发明公开一种p型GaN与AlGaN半导体材料的制备方法,包括衬底及由下往上生长在衬底上的缓冲层或过渡层、非故意掺杂层以及受主掺杂层;在该结构的生长过程中,使用氨气或二甲肼氮作为五族氮源;使用三甲基镓或三乙基镓作为三族镓源,使用三甲基铝或三乙基铝作为三族铝源,使用三甲基铟或三乙基铟作为三族铟源,统称为三族金属源;三甲基铟或三乙基铟也作为表面活性剂,在受主掺杂层中使用。本发明使用三甲基铟或三乙基铟作为表面活性剂辅助生长,同时采用delta掺杂法来制备受主掺杂层。该方法增大了受主掺杂镁原子的掺入效率,同时又能抑制其自补偿效应,从而获得良好晶体质量以及高空穴浓度的p型GaN与AlGaN半导体材料。
公开/授权文献
- CN102903615A 一种p型GaN与AlGaN半导体材料的制备方法 公开/授权日:2013-01-30
IPC分类: