发明公开
CN102879723A 一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法
- 专利标题(英): Measuring device and measuring method for piezoelectric ringing effect of electro-optic crystal
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申请号: CN201210364597.9申请日: 2012-09-26
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公开(公告)号: CN102879723A公开(公告)日: 2013-01-16
- 发明人: 陈檬 , 杨超 , 李港 , 彭志刚 , 樊仲维 , 杨军红 , 麻云凤
- 申请人: 北京工业大学 , 北京国科世纪激光技术有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区平乐园100号
- 专利权人: 北京工业大学,北京国科世纪激光技术有限公司
- 当前专利权人: 北京工业大学,北京国科世纪激光技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区平乐园100号
- 代理机构: 北京汇信合知识产权代理有限公司
- 代理商 王秀丽
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
本发明涉及激光技术领域,特别涉及一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法,一种电光晶体压电振铃效应测量装置,包括光电探测器A和光电探测器B,在入射光路的中心线上依次设有薄膜偏振片D、1/2波片、法拉第光学旋转器、薄膜偏振片B、1/4波片、测试装置和全反镜,所述测试装置由高压驱动电源驱动,所述光电探测器A用于探测薄膜偏振片D上的反射光,所述光电探测器B用于探测薄膜偏振片B上的反射光。本发明在测量电光晶体振铃效应时,所需的高压驱动电源提供的电压降低了一倍,并且本发明可以实现BBO、KD*P等这种高电压晶体的压电振铃效应的测量。
公开/授权文献
- CN102879723B 一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法 公开/授权日:2015-06-10