发明授权
- 专利标题: 试样测量装置以及试样测量系统
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申请号: CN201210126181.3申请日: 2012-04-26
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公开(公告)号: CN102759627B公开(公告)日: 2014-10-22
- 发明人: 汤浅一博
- 申请人: 爱科来株式会社
- 申请人地址: 日本京都府
- 专利权人: 爱科来株式会社
- 当前专利权人: 爱科来株式会社
- 当前专利权人地址: 日本京都府
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 李辉; 黄纶伟
- 优先权: 2011-097929 2011.04.26 JP; 2012-023917 2012.02.07 JP
- 主分类号: G01N33/66
- IPC分类号: G01N33/66 ; G08C17/02
摘要:
本发明提供能够简化装置的功能、并且促进适当状态下的测量的试样测量系统。并且,提供适于该系统中的使用的试样测量装置。该试样测量装置具有测量部、测量条件判定部以及通信部。测量部进行与试样所包含的特定成分相关的测量。测量条件判定部判定上述测量所需的测量条件适当与否,并且生成包含该测量条件适当与否的判定结果的测量条件数据。通信部通过无线通信发送上述测量条件数据。
公开/授权文献
- CN102759627A 试样测量装置以及试样测量系统 公开/授权日:2012-10-31
IPC分类: