- 专利标题: 检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪
- 专利标题(英): Detection apparatus for detecting charged particles, methods for detecting charged particles and mass spectrometer
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申请号: CN201080049069.3申请日: 2010-10-18
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公开(公告)号: CN102668017B公开(公告)日: 2015-02-11
- 发明人: A·马卡洛夫 , A·詹纳考普洛斯
- 申请人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 申请人地址: 德国不来梅
- 专利权人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 当前专利权人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 当前专利权人地址: 德国不来梅
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖
- 优先权: 0918629.7 2009.10.23 GB
- 国际申请: PCT/EP2010/065658 2010.10.18
- 国际公布: WO2011/048060 EN 2011.04.28
- 进入国家日期: 2012-04-23
- 主分类号: H01J49/02
- IPC分类号: H01J49/02
摘要:
本发明提供了一种用于检测带电粒子的检测装置,该检测装置包括:一个次级粒子产生器,用于响应于接收到进入的带电粒子而产生次级带电粒子;一个带电粒子检测器,用于接收并检测该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子;一个光子产生器,用于响应于接收到该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子而产生光子;以及一个光子检测器,用于检测该光子产生器所产生的光子。还提供了包括该检测装置的一种质谱仪、该检测装置在TOF质谱法中的用途以及改进一种TOF质谱仪的动态检测范围的方法。
公开/授权文献
- CN102668017A 检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪 公开/授权日:2012-09-12