Invention Grant
- Patent Title: 自动分析装置
- Patent Title (English): Automatic analysis device
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Application No.: CN201180003355.0Application Date: 2011-12-02
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Publication No.: CN102640005BPublication Date: 2014-11-12
- Inventor: 岩村佳名子 , 金山省一
- Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社东芝,东芝医疗系统株式会社
- Current Assignee: 东芝医疗系统株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 徐冰冰; 黄剑锋
- Priority: 2010-270239 2010.12.03 JP
- International Application: PCT/JP2011/077902 2011.12.02
- International Announcement: WO2012/074087 JA 2012.06.07
- Date entered country: 2012-02-17
- Main IPC: G01N35/00
- IPC: G01N35/00 ; G01N21/31
Abstract:
本发明提供自动分析装置。削减关于受光元件的位置调整的劳力和时间。光源产生光。分光器将从光源产生、透射了试样与试剂的混合液的光按波长分解。受光部(8)具有接受从分光器来的光的多个受光元件(81)。多个受光元件(81)的每一个接受有关与配置位置相对应的波段的光，产生与接受的光相对应的信号。存储部(11)将多个受光元件标识符与多个波段标识符建立关联地存储。选择部(13)从多个受光元件中选择与确定的受光元件标识符相对应的确定的受光元件，所述确定的受光元件标识符同与上述试样的测量项目相对应的波段的波段标识符建立了关联。计算部(15)根据从所选择的确定的受光元件来的信号计算有关测量项目的吸光度。
Public/Granted literature
- CN102640005A 自动分析装置 Public/Granted day:2012-08-15
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