发明授权
CN102508045B 一种准确测量窄脉冲调制参数的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种准确测量窄脉冲调制参数的方法
- 专利标题(英): Method for accurately measuring narrow pulse modulation parameter
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申请号: CN201110321512.4申请日: 2011-10-21
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公开(公告)号: CN102508045B公开(公告)日: 2014-07-02
- 发明人: 李金山 , 徐达旺 , 宁泽洪 , 董占勇
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市青岛开发区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中电科仪器仪表有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市青岛开发区香江路98号
- 代理机构: 北京捷诚信通专利事务所
- 代理商 董琪
- 主分类号: G01R29/06
- IPC分类号: G01R29/06 ; G01R29/02
摘要:
本发明涉及一种准确测量窄脉冲调制参数的方法,窄脉冲调制信号RF依次经过双二极管检波器、对数放大器、通道运放单元后分为两路信号,一路经带宽控制单元送入高速ADC模块进行模数转换,另一路送至高速触发电路,高速ADC模块根据高速触发电路产生的脉冲信号触发A/D转换,得到的有效ADC数据送至FPGA,且根据高速触发电路产生的触发信号存储于FPGA内;DSP单元从FPGA中读出有效ADC数据,完成数据处理后将运算结果储存于大容量RAM内。本发明所述的准确测量窄脉冲调制参数的方法,可对最小脉冲宽度为30ns,动态范围为-27~+20dBm的窄脉冲调制参数进行测量,而且既可以测量窄脉冲调制信号的时间参数,又可以测量窄脉冲调制信号的幅度参数。
公开/授权文献
- CN102508045A 一种准确测量窄脉冲调制参数的方法 公开/授权日:2012-06-20