本发明公开了一种简化的测量过程统计控制方法，它省去了标准偏差或极差控制图，根据标准偏差试验结果的大小，进而大大减少了实施统计控制的工作量，便于推广应用。它的步骤为：1)单次测量的标准偏差获得；利用测量设备在重复性条件下，按照选定的核查标准进行一个子组的测量，直至无异常值存在，从而获得一个子组的标准偏差；2)子组最少测量次数n的确定；3)预备数据的取得；在重复性条件下，根据步骤2)确定的子组测量次数n对选择好的核查标准作n次独立重复测量，该n次测量结果称为一个子组；4)计算初始统计控制参数；5)组内平均值的检验；6)计算统计控制参数；7)组内平均值控制界限的确定和控制图的建立。